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Clearer view for TIRF and oblique illumination microscopy.

Optics express 2016 Fiolka R

全内反射荧光(TIRF)显微镜利用倏逝场实现薄光学切片,但宽场检测缺乏对离焦模糊的抑制机制,样品散射和远场激发会降低图像对比度。本文提出结构化照明TIRF(sTIRF)和结构化斜照明(sHILO)方法,通过粗干涉条纹填充宽场检测光学传递函数(OTF)的缺失锥,从而拒绝离焦光并保留宽场灵敏度。sTIRF 在临界角以上用两束倏逝场形成干...