Hydroxyl radical and thermal annealing on amorphous InGaZnO4 films for DNA immobilizations.

本研究考察羟基自由基（OH）与热退火对非晶 InGaZnO4（aIGZO）薄膜表面 DNA 固定的调控作用。采用 X 射线光电子能谱（XPS）和荧光测量分别表征表面 OH 覆盖状态与 DNA 固定情况。系统考察表明，与 DNA 固定水平相关的表面 OH 覆盖度与局部表面电势有关。此外，aIGZO 表面 OH 亲和性对热退火敏感；高温...