The Microscopic Origin of Residual Stress for Flat Self-Actuating Piezoelectric Cantilevers.
本研究在低应力 Pb(Zr0.52Ti0.48)O3(PZT)薄膜条件下制备了平面压电微悬臂梁,并采用拉曼光谱与晶圆曲率法对其残余应力进行分析。结果表明,1 μm 是 PZT 薄膜厚度的关键阈值:当厚度超过 1 μm 时,表面粗糙化引发应力松弛,(111) 择优取向开始下降,而压电系数 d33 的变化与择优取向改变所伴随的应力松弛密...